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產(chǎn)品中心分析表征設(shè)備形貌成分表征
隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展，電子顯微鏡進入了一個不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量，而且重視其采集過程的時代
更新時間：2024-11-18
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以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察”為理念，開發(fā)出TM4000系列
更新時間：2024-11-18產(chǎn)品型號：瀏覽量：255
型號：DektakXTDektakXT探針式輪廓儀采用革命性的臺式設(shè)計，可實現(xiàn)4Å（0.4nm）的優(yōu)異重復(fù)性，掃描速度可提高40%
更新時間：2024-11-18產(chǎn)品型號：瀏覽量：492
DimensionFastScan原子力顯微鏡（AFM）系統(tǒng)經(jīng)過專門設(shè)計，在不降低分辨率、不失去力控制、不增加設(shè)備復(fù)雜性，不帶來繁瑣操作的前提下，即可實現(xiàn)快速掃描
更新時間：2024-11-18產(chǎn)品型號：瀏覽量：321
BrukerDimensionlcon”原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的應(yīng)用體驗，具有高水平的性能、功能和配件選擇，其測試功能強大，操作簡便易行
更新時間：2024-11-18產(chǎn)品型號：瀏覽量：292
